페이지 정보 작성자 관리자 댓글 0건 조회 281회 작성일 22-04-01 17:13 Publication 목록 게시판 리스트 옵션 검색 Journal Impact of Near-Stoichiometric Silicon Nitride Gate Insulator on the Performance of MOCVD-Grown ZnO Thin-Film Transistors Author : K. Remashan, Y. S. Choi, S. J. Park, J. H. Jang Source ECS Journal of Solid State Science and Technology, Vol. 1, No. 4, pp. Q70-Q78, 2012. Year 2012 본문 목록