페이지 정보 작성자 관리자 댓글 0건 조회 203회 작성일 22-04-04 11:53 Publication 목록 Conference Direct measurement of nanoscale sidewall roughness of optical waveguides using atomic force microscope Author : J. H. Jang, W. Zhao, J. W. Bae, D. Selvanathan, S. L. Rommel, I. Adesida, A. Lepore, M. Kwakernaak and J. H. Abeles Source Applied Physics Letters, pp. 4116-4118, 2003. Year 2003 본문 목록