페이지 정보 작성자 관리자 댓글 0건 조회 270회 작성일 22-04-04 15:06 Publication 목록 게시판 리스트 옵션 검색 Conference Correlation Between Gate Leakage Current and Current Collapse in Oxygen Plasma Treated GaN/AlGaN/GaN-on-Si HEMTs Author : Y. K. Kwon, J. H. Hwang, H. J. Mun, S. B. Lee, S. M. Hong, J. H. Jang Source International Symposium on Compound Semiconductors, 2018. Year 2018 본문 목록